МОСКВА, 12 апреля. /ТАСС/. Ученые из Пензенского государственного университета (ПГУ) и Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ» запатентовали способ диагностики нановключений в тонкопленочных нанокомпозитах.